Recent, Joint Laboratory of High Power Laser Physics, Institutul de Optică și Mașini de Precizie din Shanghai (SIPM), Academia Chineză de Științe (CAS), a propus o metodă de calibrare interferometrică cu o singură expunere pentru lentilele difractive cu deschidere mare, care oferă un suport puternic pentru aplicarea inginerească a lentilelor difractive cu deschidere mare. Rezultatele au fost publicate în Optics Letters ca „Măsurarea absolută a proprietăților de focalizare ale unei lentile difractive cu deschidere mare”. Scrisori de optică.
În comparație cu lentila de focalizare refractivă, elementul optic difractiv are un design flexibil, deschidere mare, greutate redusă, potrivit pentru diferite benzi de lungimi de undă și capabil să realizeze funcții optice complexe, iar sita fotonică și foaia de panglică sunt reprezentanții tipici. a lentilei difractive. Având în vedere că elementele difractive constau dintr-un număr mare de microstructuri, abaterile sunt inevitabile în timpul procesării, astfel încât performanța trebuie calibrată înainte de utilizare.
Figura 1. Calea optică de măsurare a unei lentile difractive cu diametru mare
În acest studiu, cercetătorii au folosit ca referință lumina naturală de fundal a lentilei difractive cu diametru mare, care a intrat în sistemul interferometric de forfecare împreună cu fasciculul focalizat. Pe baza interferogramelor înregistrate de detector, analiza Fourier a fost utilizată pentru a obține gradientul frontului de undă al fasciculului focalizat față de lumina de fundal, apoi metoda modului a fost utilizată pentru a recupera frontul de undă transmis și, în final, distanța focală și spotul focal. forma lentilei difractive au fost calculate numeric. Rezultatele experimentale ale lentilei difractive cu deschidere de 210-mm sunt în conformitate cu așteptările teoretice. Secțiunile cu benzi de undă cu deschidere ultra-mare și sitele fotonice pot fi utilizate în telescoapele interferometrice spațiale. Sitele de fotoni de separare a fasciculului cu structuri autoportante sunt potrivite pentru imagistica focalizată a EUV și a razelor X moi.
Figura 2. Interferometru de forfecare auto-dezvoltat cu rezultate experimentale măsurate
